AllTheIC ->> Электроника части ->> SN74BCT8244ADWR
SN74BCT8244ADWR Datasheet, PDF, схема, по применению
SN74BCT8244ADWR приложений, пакетов, Pin
Применение Русский :
Применение английский : IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL BUFFERS
Производитель : Texas Instruments
Упаковка :
Pin :
Применение Русский :
Применение английский : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
Производитель : Texas Instruments
Упаковка :
Pin :
Применение Русский :
Применение английский : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
Производитель : Texas Instruments
Упаковка :
Pin :
Применение Русский :
Применение английский : Scan Test Devices With Octal Buffers
Производитель : Texas Instruments
Упаковка :
Pin :